Référence fabricant : | SN74BCT8244ANTG4 | État RoHS : | Sans plomb / conforme à la directive RoHS |
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Fabricant / marque : | Luminary Micro / Texas Instruments | Etat du stock : | 4067 pcs Stock |
La description : | IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP | Bateau de : | Hong Kong |
Livret des spécifications : | Manière d'expédition : | DHL/Fedex/TNT/UPS/EMS |
Numéro de pièce | SN74BCT8244ANTG4 |
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Fabricant | |
La description | IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP |
État sans plomb / État RoHS | Sans plomb / conforme à la directive RoHS |
Quantité disponible | 4067 pcs |
Livret des spécifications | |
tension d'alimentation | 4.5 V ~ 5.5 V |
Package composant fournisseur | 24-PDIP |
Séries | 74BCT |
Emballage | Tube |
Package / Boîte | 24-DIP (0.300", 7.62mm) |
Autres noms | SN74BCT8244ANTE4 SN74BCT8244ANTE4-ND |
Température de fonctionnement | 0°C ~ 70°C |
Nombre de bits | 8 |
Type de montage | Through Hole |
Niveau de sensibilité à l'humidité (MSL) | 1 (Unlimited) |
Type de logique | Scan Test Device with Buffers |
Statut sans plomb / Statut RoHS | Lead free / RoHS Compliant |
Description détaillée | Scan Test Device with Buffers IC 24-PDIP |
Numéro de pièce de base | 74BCT8244 |
IC SCAN TEST DEVICE TXRX 24-SOIC
IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC
IC SCAN TEST DEVICE TXRX 24-SOIC
IC SCAN TEST DEVICE TXRX 24-DIP
IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP
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IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC
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IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC
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